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涂层测厚仪
MiniTest4100涂层测厚仪
- 产地：德国
- 上架时间：11-12-26 11:29
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产品描述：
德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。
MiniTest涂层测厚仪功能
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型号
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1100
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2100
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3100
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4100
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MINITEST 存储的数据量
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应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
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1
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1
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10
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99
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每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计，并可设宽容度极限值)
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-
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1
|
10
|
99
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可用各自的日期和时间标识特性的组数
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-
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1
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500
|
500
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数据总量
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1
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10000
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10000
|
10000
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MINITEST统计计算功能
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读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
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-
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√
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√
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√
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|
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
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-
|
-
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√
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√
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|
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
|
-
|
-
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√
|
√
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|
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
|
-
|
-
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√
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√
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存储显示每一个应用行下的所有组内数据
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-
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-
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-
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√
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分组打印以上显示和存储的数据和统计值
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-
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-
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√
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√
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显示并打印测量值、打印的日期和时间
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-
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√
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√
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√
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其他功能
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透过涂层进行校准(CTC)
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-
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√
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√
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√
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在粗糙表面上作平均零校准
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√
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√
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√
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√
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利用计算机进行基础校准
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√
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√
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√
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√
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补偿一个常数(Offset)
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-
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-
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√
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√
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外设的读值传输存储功能
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-
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√
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√
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√
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保护并锁定校准设置
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√
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√
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√
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√
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|
更换电池是存储数值
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√
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√
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√
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√
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设置极限值
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-
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-
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√
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√
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公英制转换
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√
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√
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√
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√
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连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值
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-
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-
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√
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√
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连续测量模式中测量稳定后显示读数
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-
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-
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√
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√
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浮点和定点方式数据传送
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√
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√
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√
|
√
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组内单值延迟显示
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-
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√
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√
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√
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连续测量模式中显示最小值
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√
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√
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√
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√
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技术参数：
MiniTest涂层测厚仪可选探头参数(探头图示)
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
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探头
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量程
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低端
分辨率 |
误差
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最小曲率
半径(凸/凹) |
最小测量
区域直径 |
最小基
体厚度 |
探头尺寸
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磁
感 应 法 |
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x8x170mm
|
|
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
|
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
|
两
用 |
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ21x89mm
|
|
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
|
电
涡 流 法 |
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x13x170mm
|
|
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
|
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
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CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
|
无限制
|
φ17x80mm
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|
|
注：
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F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
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FN1.6 0～1600μm,φ5mm 两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 两用测头， 特别适合测粉末状的覆层厚度 |
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F05 0～500μm,φ3mm 磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
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F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性测头 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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F3 0～3000μm,φ5mm 磁性测头 可用于较厚的覆层 |
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F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性测头 尤其适合于在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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F10 0～10mm,φ20mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等 |
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F20 0～20mm,φ40mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等 |
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F50 0～50mm,φ300mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层 |
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N02 0～200μm,φ2mm 非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层 |
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N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层 尤其适合在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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N10 0～10mm,φ50mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
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N20 0～20mm,φ70mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
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N100 0～100mm,200mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
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CN02 10～200μm,φ7mm 用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板 |