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涂层测厚仪
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪
- 产地：德国
- 上架时间：12-01-04 11:40
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产品描述：
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法，是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。技术参数：
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普通型 |
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铁基膜层测厚仪标准套 |
2042F |
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非铁基膜层测厚仪标准套 |
2042NF |
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铁基/非铁基膜层测厚仪标准套 |
2042 |
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数据型 |
铁基 |
2042 Fe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 |
2042 EF |
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2042 Fe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 |
2042DF |
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非铁基 |
2042 NFe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 |
2042ENF |
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2042 NFe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 |
2042DNF |
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铁基/非铁基 |
2042 Fe/NFe Set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 |
2042 E |
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2042 Fe/NFe Data Set----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 |
2042 D |
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