产品描述：

杰出的设计，专注测量平面、平行或圆柱表面的内部、外部、高度、深度、阶梯和距离等任何几何特征尺寸。
-自动搜索孔或轴的顶点，在动态探测中记录最大、最小值以及最大最小值之间的差值计算。
TESA IG-13数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差，并以ISO1101标准输出数据。
-在电子测高仪上20年的制造经验造就了高品质的设计，代表了当今的技术水平的发展。

技术参数：

00730033	TESA MICRO-HITE 350测高仪 TESA MICRO Hite 350	350
00730034	TESA MICRO-HITE 600测高仪 TESA MICRO Hite 600	600
00730035	TESA MICRO-HITE900 测高仪 TESA MICRO Hite 900	900

技术文档：

相关产品：

如何购买：