产品描述：

T8000 SC 测量仪配置了分辨度极高的探测系统，同时测量粗糙度和轮廓，几何参数以及粗糙度特征数据在一个流程中评价
此测量系统性价比出色，测量功能和应用范围完全可以和复杂的试验室测量系统媲美。
霍梅尔-艾达米克 T8000 SC测量仪优点一览：
粗糙度和轮廓共用一个探测系统 
可测量斜面和曲面的粗糙度
测量范围大，所以测量系统不再需要相对工件表面的定位过程
磁性测头臂支架，保证了测头臂的更换迅速、可靠
用于评价粗糙度和轮廓参数的软件功能广泛

技术参数：

带19“ TFT”显示屏的分析电脑，彩色打印机，CD/DVD刻录器，粗糙度和轮廓的分析软件
带自动探测功能的电动wavelift 400测量立柱
waveline 120 advanced进给装置附带增量光栅尺
进给装置的倾斜和紧固单元粗回转范围±45°，精回转范围±5°
带10mm T槽的硬岩石板
wavecontour surfscan 测头，含带金刚石探头和红宝石探头的两个测头臂
RNDH2粗糙度标准块
校准用附件一套
用于紧固工件的测量台 MT1 XYO

技术文档：

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